I. Verwendungszweck

Die ZXGP-500-Serie von Hell and Dark Field Silicon Detection Mikroskopen eignet sich für die mikroskopische Beobachtung von Solarzellen-Siliziumflatten. Dieses Gerät ist mit einem großen Bewegungsbereich, einem Tragstisch, einer Fallbeleuchtung, einem Flachfeld-Farbdifferenz-Objektiv für lange Arbeitsdistanzen, einer großen Sichtfeldbrille, einem klaren Bild, einer guten Linie, einer Polarisationseinrichtung und einer hochpixeligen Digitalkamera ausgestattet. Dieses Instrument ist mit einem dunklen Feld Objektiv ausgestattet, um das Bild bei der Beobachtung von Siliziumflatten klarer zu machen, und ist das ideale Instrument zur Erkennung der mikroskopischen morphologischen Verteilung von "Pyramiden" von Solarzellen-Siliziumflatten und zur Fehleranalyse von Siliziumflatten.

Siliziumdetektionsmikroskop kann mit dem bloßen Auge schwer beobachtete Positionsfehler, Kratzer, Absturzkanten usw. beobachten; Es ist auch möglich, Verunreinigungen und Rückstandsbestandteile von Siliziumflatten zu analysieren. Zu den Verunreinigungen gehören: Partikel, organische Verunreinigungen, anorganische Verunreinigungen, Metallionen, Siliziumstaub usw., was die Siliziumflatte nach dem Schleifen anfällig für Verblutung, Blau, Schwarz und andere Phänomene macht, so dass die Schleifplatte nicht qualifiziert ist. Es ist eines der häufig verwendeten Prüfinstrumente bei der Herstellung von Solarzellen-Siliziumflatten.

Technische Standards