Professioneller Anbieter von Geräten und Prüflösungen - JETYOO INDUSTRIAL & JETYOO INSTRUMENTSGegründet im Jahr 2011 als Technischer Support-Ingenieur für Agilent Agilent (heute KEYSIGHT) und Technischer Support-Ingenieur für KEITHLEY (heute Tektronix) Yoo Yoo Yoo Yoo Yoo Yoo Yoo Yoo Yoo Yoo Yoo Yoo Yoo Yoo Yoo Yoo Yoo Yoo Yoo Yoo Yoo Yoo Yoo Yoo Yoo Yoo Yoo Yoo Yoo Yoo Yoo Yoo Yoo Yoo YooTechnische AnwendungenHandelsunternehmen,Sechzehn Jahre im Bereich der industriellen PrüfungNeu zu zerstören! Füllen Sie die meisten Hersteller von importierten Geräten nur im Inland mit Verkaufsstellen, aber die technische Unterstützung ist schwach oder nicht, und die Agenten-Händler sind auch nur für den Verkauf spezialisiert, nicht professionell für die technische Antwort / Testprogramm vor dem Verkauf, nicht professionell für die Kalibrierung der Schulung / Reparatur nach dem Verkauf.
Japanischer Solar-Kapazitätstester HIOKI3504-50Je nach Messzweck sind verschiedene Sonden-/Testklammeroptionen für verschiedene Modelle verfügbar
SMD-Testgerät 9699, für SMD DC ~ 120MHz mit Elektroden am Boden, Testprobe Größe: Breite 1,0 ~ 4,0mm, Höhe unter 1,5 mm
SMD-Testgerät 9677, für SMD DC ~ 120MHz mit Elektroden an der Seite, Prüfprobengröße: 3,5 mm ± 0,5 mm
SMD-Prüfgerät 9263, Direktanschluss, DC bis 5 MHz Prüfgröße: 1mm bis 10,0mm
Prüfgerät 9262, DC~8 MHz, Direktverbindung
Testgerät 9261 Kabelanschluss, DC bis 5 MHz, 1m Länge
Pinsel-Sonde L2001, Leitungslänge 73cm, DC-8MHz, 50Ω, Elektrodenabstand: 0,3-6mm (IM9901: JIS-Größe 1608-5750) (IM9902: JIS-Größe 0603-5750)
Testsonde 9140 mit 4 Anschlüssen, DC bis 100kHz, 1 m Länge
Japanischer Solar-Kapazitätstester HIOKI3504-50Grundparameter
Messparameter Cs, Cp (Kapazität), D (Verlustfaktor tanδ)
Messbereich C:0.9400pF~20.0000mF,D:0.00001~1.99000
Grundgenauigkeit (repräsentative Werte) C: ±0,09% rdg. ±10 dgt., D: ±0,0016, Messgenauigkeit = Grundgenauigkeit × B × C × D × E, B bis E für die jeweiligen Koeffizienten
Messfrequenz 120Hz, 1kHz
Messung des Signalpegels Konstantspannungsmodus: 100mV (nur 3504-60), 500 mV, 1 V
Messbereich:
CV 100mV: ~ 170 μF Messbereich (Messfrequenz 1kHz), ~ 1,45 mF Messbereich (Messfrequenz 120Hz)
CV 500mV: ~ 170μF Messbereich (Messfrequenz 1kHz), ~ 1,45mF Messbereich (Messfrequenz 120Hz)
CV 1V: ~ 70μF Messbereich (Messfrequenz 1kHz), ~ 700μF Messbereich (Messfrequenz 120Hz)
Ausgangswiderstand 5 Ω (bei Spannungsmodus mit offenem Anschluss außerhalb des CV-Messbereichs)
Anzeigen Lichtemittierende Sekundärrohre (6-Bit-Darstellung, Vollrechner je nach Messbereich)
Messzeit Typischer Wert: 2,0 ms (1 kHz, FAST)
Funktionen BIN-Klassifizierungsmessung (außer 3504-40), Triggersynchronisierter Ausgang, Messbedingter Speicher, Vergleichsfunktion der Messwerte, Mittelwertfunktion, Low-C-Filterfunktion, Vibrationsfunktion, Ausgangseingang zur Steuerung (EXT. I/O), RS-232C-Schnittstelle (Standard), GP-IB-Schnittstelle (außer 3504-40)
Stromversorgung AC 100/120/220/240V ±10% (optional), 50/60Hz, max. 110VA
Größe und Gewicht 260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
Zubehör Stromkabel x 1, Vorbereitungssicherung x 1, Bedienungsanleitung x 1